LB-820 UV-Vis NIR Spektrofotometer

Instrument kenmerke

Die ontwerp van die optiese stelsel met dubbele straal verminder die agtergrondinterferensie en verbeter die toetsakkuraatheid.

Die ontvangeronderdele van die instrument is almal ingevoerde toestelle, wat die hoë werkverrigting en stabiliteit van die instrument verseker.

Die beheer van die instrument (soos roosteromskakeling, filteromskakeling, ontvangeromskakeling, golflengteskandering, ens.) word alles deur die rekenaar beheer, en die koppelvlak is USB2.0.Die verbinding van die instrument is eenvoudig, wat die kommunikasiespoed aansienlik verbeter.

Die geïntegreerde optiese toetsstelselsagteware kan gekies word om die sigbare ligoordrag, direkte sonligoordrag, direkte sonligweerkaatsing en ander verwante parameters van bouglas outomaties op te spoor.

Die totale deurlaatbaarheid van sonenergie en die afskermingskoëffisiënt van verskeie vensterglaskomponente na sonstralingshitte kan verkry word deur saam te werk met die glas hemisferiese emissiedetektor.

Spesiale voorbeeldtoetsbykomstighede kan gekies word.

Die sagteware stel die invoerfunksie, wat data in teksformaat kan invoer.

Intydse meting van monsterdata, toetsresultaatdata kan uitgevoer word.

Die sagteware kan onder WinXP- en win7-stelsels loop.

Spesifikasie parameters

1. Ligbron: ingevoerde deuteriumlamp, wolframbromiedlamp

2. Golflengtereeks (nm): 190-2800 (uitbreidbaar na 3600nm)

3. Golflengte akkuraatheid (nm): ± 0.5 (UV / VIS);± 4 (NIR)

4. Golflengte herhaalbaarheid (nm): ≤ 0.3 (UV / VIS);≤ 2 (NIR)

5. Bandwydte (nm): 0,2-5 (UV-Vis), 1-20 (NIR)

6. Transmissie akkuraatheid (% t): ± 0.3

7. Transmissie spesifieke swaartekrag hervou (% t): ≤ 0.2

8. Dwaallig (% t): ≤ 0,2% t (220nm, NAI)

9. Werkmodus: transmissie, absorpsie, reflektiwiteit, energie

10. Sagtewarefunksie: volgens die gebruik van kliënte, kan die ooreenstemmende toetskoppelvlakfunksie aangepas word om die transmissie, absorpsie en absolute refleksie van die toetsmonster te meet.

11. Steekproefinterval: 0.1nm, 0.2nm, 0.5nm, 1nm, 1.5nm, 2nm, 5nm, 10nm

12. Fotometriese omvang: 0 ~ 2.5A

13. Grondlyn platheid: ± 0.004a (200-2500nm, na voorverhitting vir 30 minute)

14. Gasheer-koppelvlak: USB2.0

15. Afmeting (mm): (vorm) 830 * 600 * 260, (monsterkamer) 120 * 240 * 200

16. Toetsmonster spesifikasie (mm): 30 ~ 110, dikte ≤ 20

17. Gewig (kg): ongeveer 65

18. Basiese konfigurasie:

UV Vis NIR-spektrometergasheer, USB-datakabel, kwartskuvet, nulblok, toepassingsagteware, ondersteunende gereedskap, ens. ('n stel soliede bykomstighede en vloeibare bykomstighede is standaard)

Glas omvattende optiese toetsstelselsagteware is opsioneel

*Gebruikers moet hul eie rekenaars en drukkers voorsien

Optionale bykomstighede

Zf820-1 integreer-sfeer-bykomstighede

Dubbele detektors met deursnee van Φ 60mm, 380-2500nm

Zf820-2 soliede monster meting bykomstighede

Omvang van klemlens: deursnee: Φ 10-36mm;dikte: 0,5-10 mm

Zf820-3 refleksie meting bykomstigheid

Die invalshoek is 5 grade, en die refleksiespektrum word gemeet

Sagteware

Die werkende sagteware van die instrument het ryk toets- en ontledingsfunksies, wat die transmissie, absorpsie, energie en reflektiwiteit kan meet.Dit het die funksies van spektrumskandering, vastepuntmeting en multigolflengtemeting