LCP-27 Meting van Diffraksie-intensiteit

Kort beskrywing:

Die eksperimentele stelsel bestaan hoofsaaklik uit verskeie dele, soos 'n eksperimentele ligbron, diffraksieplaat, intensiteitsopnemer, rekenaar en bedryfsagteware. Deur middel van 'n rekenaarkoppelvlak kan die eksperimentele resultate as 'n aanhegsel vir die optiese platform gebruik word, en dit kan ook as 'n eksperiment alleen gebruik word. Die stelsel het 'n fotoëlektriese sensor vir die meting van ligintensiteit en 'n hoë-akkuraatheid verplasingsensor. Die roosterliniaal kan verplasing meet en die verspreiding van diffraksie-intensiteit akkuraat meet. Die rekenaar beheer data-insameling en -verwerking, en die meetresultate kan met die teoretiese formule vergelyk word.

Stuur e-pos aan ons

Produkbesonderhede

Produk-etikette

Eksperimente

1. Toets van enkelspleet-, veelspleet-, poreuse en meervoudige reghoekige diffraksie, die wet van diffraksie-intensiteit verander met eksperimentele toestande.

2. 'n Rekenaar word gebruik om die relatiewe intensiteit en intensiteitsverspreiding van 'n enkelspleet op te neem, en die breedte van die enkelspleetdiffraksie word gebruik om die breedte van die enkelspleet te bereken.

3. Om die intensiteitsverspreiding van die diffraksie van veelvuldige spleet-, reghoekige gate en sirkelvormige gate waar te neem

4. Om die Fraunhofer-diffraksie van 'n enkelspleet waar te neem

5. Om die verspreiding van ligintensiteit te bepaal

Spesifikasies

Item	Spesifikasies
He-Ne Laser	>1.5 mW @ 632.8 nm
Enkelgleuf	0 ~ 2 mm (verstelbaar) met 'n presisie van 0.01 mm
Beeldmetingsbereik	0.03 mm spleetwydte, 0.06 mm spleetafstand
Projektiewe Verwysingsrooster	0.03 mm spleetwydte, 0.06 mm spleetafstand
CCD-stelsel	0.03 mm spleetwydte, 0.06 mm spleetafstand
Makro-lens	Silikon fotosel
WS-kragspanning	200 mm
Metingsakkuraatheid	± 0.01 mm