LB-820 UV-Vis NIR Spektrofotometer

Instrumentkenmerke

Die ontwerp van die dubbelstraal optiese stelsel verminder die agtergrondinterferensie en verbeter die toets akkuraatheid.

Die ontvangerdele van die instrument is almal ingevoerde toestelle, wat die hoë werkverrigting en stabiliteit van die instrument verseker.

Die beheer van die instrument (soos roosteromskakeling, filteromskakeling, ontvangeromskakeling, golflengteskandering, ens.) word alles deur die rekenaar beheer, en die koppelvlak is USB2.0. Die verbinding van die instrument is eenvoudig, wat die kommunikasiespoed aansienlik verbeter.

Die geïntegreerde optiese toetsstelselsagteware kan gekies word om outomaties die sigbare ligtransmissie, direkte sonligtransmissie, direkte sonligreflektansie en ander verwante parameters van bouglas op te spoor.

Die totale transmissie van sonenergie en die afskermingskoëffisiënt van verskeie vensterglaskomponente teen sonstralingshitte kan verkry word deur samewerking met die glashemisferiese emissiwiteitsdetektor.

Spesiale monstertoetsbykomstighede kan gekies word.

Die sagteware stel die invoerfunksie in, wat data in teksformaat kan invoer.

Meting van steekproefdata in reële tyd, toetsresultaatdata kan uitgevoer word.

Die sagteware kan onder WinXP- en Win7-stelsels loop.

Spesifikasieparameters

1. Ligbron: ingevoerde deuteriumlamp, wolframbromiedlamp

2. Golflengtebereik (nm): 190-3200nm

3. Golflengte-akkuraatheid (nm): ± 0.5 (UV / VIS); ± 4 (NIR)

4. Golflengte herhaalbaarheid (nm): ≤ 0.3 (UV / VIS); ≤ 2 (NIR)

5. Bandwydte (nm): 0.2-5 (UV-Vis), 1-20 (NIR)

6. Transmissie-akkuraatheid (% t): ± 0.3

7. Transmissie-spesifieke swaartekrag hervouing (% t): ≤ 0.2

8. Strooilig (% t): ≤ 0.2% t (220nm, NAI)

9. Werkmodus: transmissie, absorbansie, reflektiwiteit, energie

10. Sagtewarefunksie: volgens die gebruik van kliënte, kan die ooreenstemmende toetskoppelvlakfunksie aangepas word om die transmissie, absorbansie en absolute weerkaatsing van die toetsmonster te meet.

11. Monsternemingsinterval: 0.1nm, 0.2nm, 0.5nm, 1nm, 1.5nm, 2nm, 5nm, 10nm

12. Fotometriese bereik: 0 ~ 2.5A

13. Basislyn-vlakheid: ± 0.004a (200-2500nm, na voorverhitting vir 30 minute)

14. Gasheer-koppelvlak: USB2.0

15. Afmetings (mm): (vorm) 830 * 600 * 260, (monsterkamer) 120 * 240 * 200

16. Toetsmonsterspesifikasie (mm): 30 ~ 110, dikte ≤ 20

17. Gewig (kg): ongeveer 65

18. Basiese konfigurasie:

UV Vis NIR-spektrometergasheer, USB-datakabel, kwarts-kuvette, nulblok, toepassingsprogrammatuur, ondersteunende gereedskap, ens. (’n stel vaste bykomstighede en vloeibare bykomstighede is standaard)

Glas omvattende optiese toetsstelsel sagteware is opsioneel

*Gebruikers moet hul eie rekenaars en drukkers voorsien

Kiesionale bykomstighede

Zf820-1 integrerende sfeertoebehore

Dubbele detektors met 'n deursnee van Φ 60 mm, 380-2500 nm

Zf820-2 vaste monster metingsbykomstighede

Reikwydte van klemlens: deursnee: Φ 10-36 mm; dikte: 0,5-10 mm

Zf820-3 refleksiemetingsbykomstigheid

Die invalshoek is 5 grade, en die weerkaatsingsspektrum word gemeet

Sagteware

Die werksagteware van die instrument het ryk toets- en analisefunksies wat die transmissie, absorbansie, energie en reflektiwiteit kan meet. Dit het die funksies van spektrumskandering, vastepuntmeting en multigolflengtemeting.